მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპი

მასალა ვიკიპედიიდან — თავისუფალი ენციკლოპედია
Jump to navigation Jump to search
მ. ფონ არდენის პირველი მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპი

მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპით(სემ)— ელექტრონული მიკროსკოპის ტიპია. რომელშიც ნიმუშის ზედაპირი სკანირდება ელექტრონული სხივით, მას შეუძლია რეზოლუციის მიღწევა 1 ნანომეტრზე უკეთესად.

ლიტერატურა[რედაქტირება | წყაროს რედაქტირება]

  • ნილ კემპბელი, ჯეინ ბ. რისი, „ბიოლოგია“, VII გამოცემა, გვ. 122, თბ., 2009 წელი.