მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპი

მასალა ვიკიპედიიდან — თავისუფალი ენციკლოპედია
მ. ფონ არდენის პირველი მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპი

მასკანირებელი ელექტრონული მიკროსკოპით(სემ)— ელექტრონული მიკროსკოპის ტიპია. რომელშიც ნიმუშის ზედაპირი სკანირდება ელექტრონული სხივით, მას შეუძლია რეზოლუციის მიღწევა 1 ნანომეტრზე უკეთესად.

ლიტერატურა[რედაქტირება | წყაროს რედაქტირება]

  • ნილ კემპბელი, ჯეინ ბ. რისი, „ბიოლოგია“, VII გამოცემა, გვ. 122, თბ., 2009 წელი.